FDO—Fluorescence D.O.螢光溶氧測量法
不再需要麻煩的極化與校正工作
WTW FDO克服了其他廠商光學溶氧電極的三個技術問題
(a) 薄膜受水沖擊造成電極測值飄移不穩
(b) 高能量的藍光造成電極薄膜染劑受損
(c) 氣泡對電極測值之影響
特性:
■不需費時的極化時間及麻煩的溶氧電極校正工作
■光學量測法，比傳統電化學法更為穩定可靠
■每一個上蓋出廠時都已校正，校正記錄存於其晶片上，約可使用兩年
■具有相同光徑的參考光源，當光學元件老化時，可適時做補償調整
■使用較低能量的綠光做為激發光源，可避免薄膜感應端的螢光染劑退色，使薄膜壽命有兩年之久
■測量薄膜前端具有45 度夾角，可避免氣泡在感測端停留造成誤差
